MSA-600 Micro System Analyzer Polytec

MSA-600
Micro System Analyzer 

3D Dynamik und Topografie von Mikrosystemen und MEMS messen

MSA-600 Micro System Analyzer

Dynamik und Topografie von MEMS berührungslos messen

Beim Testen und Entwickeln von Mikrostrukturen wie MEMS-Bauelementen (Micro-Electro-Mechanical Systems) sind Topografiemessungen sowie die Visualisierung der Dynamik unerlässlich – ob zur Validierung von FE-Berechnungen, um Übersprecheffekte zu ermitteln oder um Oberflächenverformungen sichtbar zu machen. Der MSA-600 Micro System Analyzer als all-in-one optische Messstation charakterisiert sowohl die Topografie als auch in-plane und out-of-plane Bauteilbewegungen.

Die Varianten MSA-600-M/V decken Frequenzbereiche bis zu 25 MHz ab - ideal geeignet für MEMS wie MEMS-Mikrofone und andere Mikrosysteme. Die Varianten MSA-600-X/U decken den hohen und sehr hohen Frequenzbereich bis 2,5 GHz ab - perfekt zur Validierung von HF-MEMS-Resonatoren, mikroakustischen Filtern wie SAW-Filter, BAW-Filter und mehr.

PREMIERE
Das MSA-600-S ist das weltweit erste Laservibrometer für den Superhochfrequenz-Bereich (SHF) mit bis zu 8 GHz Echtzeit-Schwingungsmessung und 3D-Topografiemessung. Diese spezielle SHF-Messlösung ist ideal für die hochpräzise Erfassung des realen Schwingverhaltens an GHz MEMS wie beispielsweise FBAR (Film Bulk Acoustic Resonators), BAW (Bulk Acoustik Wave) oder SAW (Surface Acoustic Wave) Filter.

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Highlights

All-in-one optische Messstation für Mikrostrukturen
Echtzeit-Response Schwingungsmessung ohne Post-Processing
Varianten MSA-600-M/V mit bis zu 25 MHz
Varianten MSA-600-X/U mit bis zu 2,5 GHz
NEU MSA-600-S mit bis zu 8 GHz
Unerreichte sub-pm Wegauflösung
Schnelle Datenerfassung und Visualisierung der Schwingform
Intuitive Bedienung
Automatisierbar und integrierbar in Probe Stations
Import- und Exportfunktionen zur Modellvalidierung

Die optische Messstation für die Mikrosystemtechnik

Der MSA-600 Micro System Analyzer prüft Mikrosystemtechnik mit höchster Genauigkeit und lässt sich flexibel auf die Anforderungen und Prüfaufgaben moderner und zukünftiger Mikrostrukturen anpassen. Der Micro System Analyzer liefert präzise dynamische wie statische 3D Messdaten um Komponenten mit hoher Performance effizient zu entwickeln und zu produzieren. Der MSA-600 verkürzt den Designzyklus, erleichtert die Fehleranalyse und erhöht die Ausbeute in der Halbleiterfertigung.

Das Laser-Doppler-Vibrometer ermittelt unmittelbar das Echtzeit-Verhalten mit Wegauflösungen im sub-pm Bereich. Das integrierte Weißlicht-Interferometer liefert Millionen von 3D-Oberflächenmessdaten binnen weniger Sekunden. Mit intuitiver Bedienung stellt es eine leistungsfähige Komplettlösung für Forschung, Entwicklung und Produktion dar. Kompatibel mit gängigen Probe Stations begleitet der Micro System Analyzer die Entwicklung in jeder Phase – vom Prototypenbau über Qualitätssicherung bis Troubleshooting – und stellt somit die Kosteneffizienz sicher für zielgenaue Markteinführungen.

MSA-600 Micro System Analyzer - optisches Messsystem und Komponenten zur Prüfung von Dynamik und Topografie an MEMS und Mikrosystemen
MSA-600 Micro System Analyzer - optisches Messsystem und Komponenten zur Prüfung von Dynamik und Topografie an MEMS und Mikrosystemen
Vollflächige, berührungsfreie Erfassung des Echtzeit-Schwingverhaltens, hier ein Combdrive bei 6,8 KHz
Vollflächige, berührungsfreie Erfassung des Echtzeit-Schwingverhaltens, hier ein Combdrive bei 6,8 KHz
PMA Planar Motion Analysis zur Erfassung der in-plane Bauteilbewegungen an MEMS
PMA Planar Motion Analysis zur Erfassung der in-plane Bauteilbewegungen an MEMS
Flächenhaft Topografiedaten und Oberflächenparameter wie Ebenheit, Stufenhöhe oder Parallelität optisch auswerten
Flächenhaft Topografiedaten und Oberflächenparameter wie Ebenheit, Stufenhöhe oder Parallelität optisch auswerten

Spezialisierte SHF Lösung bis 8 GHz für GHz MEMS

Der MSA-600-S ist ein spezialisiertes optische Messsystem zur Echtzeit-Analyse des wahren Schwingverhaltens von Mikrosystemen und MEMS bis zu 8 GHz sowie der Oberflächencharakterisierung und Auswertung der Formparameter! Das MSA-600-S unterstützt die Entwicklung von GHz-MEMS und GHz Resonatoren, bietet eine verlässliche optische Qualitätskontrolle anhand von Formparametern sowie die Prüfung der Performance und Zuverlässigkeit der Mikrobausteine. Ideal zum Prüfen von Bauteilen im Superhochfreqeunz-Bereich (SHF) wie beispielsweise FBAR (Film Bulk Acoustic Resonators), und andere Hochfrequenz-Resonatoren.

MEMS optisch testen und messen in FuE und Produktionsumfeld
MEMS optisch testen und messen in FuE und Produktionsumfeld
Erstes Laservibrometer mit 8 GHz für SHF Tests an GHz MEMS, Filtern und Resonatoren
Erstes Laservibrometer mit 8 GHz für SHF Tests an GHz MEMS, Filtern und Resonatoren
Polytec MSA-600 zur Integration des Messkopfes in Probe-Stations
Polytec MSA-600 zur Integration des Messkopfes in Probe-Stations

Wafer-level and single-die testing

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