Fotothermische Messsysteme

für Inline-, Atline- und Laboranwendungen

Transparente und intransparente Schichtdickenmessung unter Industrie-Bedingungen messen

Kontaktfrei

Das laserbasierte Schichtdickenmesssystem von Enovasense misst ohne jeglichen Kontakt zum Objekt. Mittels Laser und Infrarotsensoren wird die opake, semitransparente oder transparente Beschichtung aus Arbeitsabständen von 5 bis 20 cm gemessen. Und dies unter industriellen Umgebungsbedingungen, also auch auf Förderbändern, bei hohen Temperaturen sowie in nassem oder brüchigem Zustand.
 

Zerstörungsfrei

Zerstörungsfrei bedeutet: taktil völlig unbeeinflusst. Der Anregungs-Laser erzeugt nur eine geringfügige Erwärmung, sodass weder das Objekt noch die Beschichtung während der Messung beeiflusst oder gar beschädigt werden.
 

Schnell

Die Messung selbst dauert weniger als eine Sekunde. Der Enovasense-Prozess basiert auf einem physikalischen Modell, das eine Vorkalibrierung des Systems entsprechend der Anwendung ermöglicht. Die Kalibrierung ist sowohl schneller als auch einfacher zu realisieren als bei herkömmlichen Methoden. Für manche Anwendungen kann die Kalibrierung sogar ganz entfallen.
 

Kompakt

Die geringen Abmessungen des Messkopfes (75 x 32 x 41 mm bei 150 g Gewicht) ermöglichen Messungen an Stellen, die bislang absolut unzugänglich waren.

Eigenschaften

kontaktlose u. zerstörungsfreie Messung
kompakter Messkopf 
86 x 41 x 32 mm, Gewicht 180 g
Messbare Schichtdicken
0.1 - 1000 µm
Genauigkeit
< 3 % der gemessenen Dicke
Messdauer
< 1 Sekunde
Arbeitsabstand 
20 - 150 mm
Controller und Messkopf
Hako-L Messstation für Atline- oder Laboranwendungen
Inline-Integration des Messkopfs

Automatische 3-Achsen-Messstation für Schichtdicken

Anwendungsspezifische Ausführungen

Zubehör

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